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化学汽相淀积材料


道康宁® CVD前驱物是一种用途广泛,高性能的材料。 设计用于PECVD处理,以沉积薄膜电介质。该材料可用于铜质双重镶嵌(copper dual damascene)和铝质IC制程(aluminum IC fabrication)。这种前驱物是无色、耐腐蚀、不自燃的有机硅材料,能够满足半导体行业对材料安全性与纯度的要求。

Z3MS, Z4MS, ZTOMCATS和Z2DM 通过我们的战略伙伴 Air Products 供货。

道康宁®Z3MS™ CVD 前驱物概述
类型: 多用途的CVD前驱物
物理形式: 硅源特种气体
特殊属性: 高纯度;半导体级 
可考虑的应用范围: 由硅-碳化物(SiC:H),硅-碳氧化物(SiOC:H)或硅-氮化物(SiCN:H)形成的薄膜电介质组成。  典型薄膜应用包括:铜扩散阻碍层(Copper diffusion barrier)蚀刻(Etch stop)硬质掩膜(Hard mask)低K值层间介电(interlevel dielectric)填缝 (Gap fill)钝化(Passivation)
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道康宁®Z4MS™ CVD 前驱物概述
类型: 多用途的CVD前驱物
物理形式: 硅源特种液体
特殊属性: 高纯度;半导体级
可考虑的应用范围: 由硅-碳化物(SiC:H),硅-碳氧化物(SiOC:H)或硅-氮化物(SiCN:H)形成的薄膜电介质组成。  典型薄膜应用包括:铜扩散阻碍层(Copper diffusion barrier)蚀刻(Etch stop)硬质掩膜(Hard mask)低K值层间介电(interlevel dielectric)填缝(Gap fill)钝化(Passivation)
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道康宁®ZTOMCATS™ CVD 前驱物概述
类型: 多用途的CVD前驱物
物理形式: 硅源特种液体
特殊属性: 高纯度;半导体级
可考虑的应用范围: 由硅-碳氧化物(SiOC:H)形成的薄膜电介质组成。  典型薄膜应用包括:低K值层间介电(interlevel dielectric)。
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道康宁®Z2DM™ CVD 前驱物概述
类型: 多用途的CVD前驱物
物理形式: 硅源特种液体
特殊属性: 高纯度;半导体级
可考虑的应用范围: 由硅-碳氧化物(SiOC:H)形成的薄膜电介质组成。  典型薄膜应用包括:低K值层间介电(interlevel dielectric)。
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